扫描探针显微镜 走査型プローブ顕微鏡 SCANNING PROBE MICROSCOPE-CC-1117-01
编号 | 型号 | 日本市场参考价格(JPY) | 库存 | 报价 | 备考 |
CC-1117-01 | SPM-9600 | 10030000〜 | 没有(联系我们) | 大型商品 |
特点
- 扫描探针显微镜(SPM)是利用细微的探针,在样品表面扫描,进行高放大倍率观察三维形貌的显微镜。
- 标准配置模式包括接触,动态和位相三种模式。
- 扩展模式包括:力调制、侧向力,磁力(MFM)、电流、表面电势(KFM)等检测模式,并能和纳米压痕仪与Q调制系统联用,可以轻松地升级到可控气氛模式。
- 软件的自动化功能帮助用户都能轻松操作。
规格
- 测定模式:标准/接触、动态、相位
- 分辨率:水平0.2nm、垂直0.01nm
- 最大扫描范围(X/Y/Z):标准/30×30×5μm
- 最大样品形状:24×8mm
- 样品装载方式:头部滑动机构
- 分束器滑动机构:内置在AFM头内

商品属性
商品属性 | |
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商品名称 | 扫描探针显微镜 走査型プローブ顕微鏡 SCANNING PROBE MICROSCOPE-2768811 |
型号 | CC-1117-01 |
类别 | 机电·电子·机械·制造|||研究·生产现场用通用仪器|||显微镜·光学关联商品 |
关键字 | 模式,探针,显微镜,关于价格、详细规格,敬请咨询。 大型商品需要另外运费。 目录刊载页:易购安综合目录2011-2012(红) 化学 | 制药 | 食品 | 研究所B-189页 目录刊载页:易购安综合目录2011-2012(绿) 机电 | 电子 | 机械 | 制造B-189页 |



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