X射线衍射仪 X線回折装置 X-RAY DIFFRACTOMETER-CC-1121-01
※关于价格、详细规格，敬请咨询。
※目录刊载页:易购安实验用仪器・耗材目录6000号379页
培养・分离・分析|||分析・检查相关用品
特点
- X射线衍射仪可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。
- 可通过峰面积计算进行定量分析。
- 可通过半高宽、峰形等进行粒径／结晶度／精密X射线结构解析等各种分析。
- 配备高精度垂直型测角仪，适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。
规格
- X射线发生部：2kW或3kW（CPU控制）
- 测角仪：θ/20联动、θ、2θ独立
- 扫描范围：－6°～163°（2θ）、－180°～180°（θ）
- 高精度角度重现性：±0.0001°
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| 编号 | 型号 | 库存 | 备考 | |
| CC-1121-01 | XRD-6000 | - | （联系我们） |
商品属性
| 商品属性 | |
|---|---|
| 商品名称 | X射线衍射仪 X線回折装置 X-RAY DIFFRACTOMETER-C3058843 |
| 型号 | CC-1121-01 |
| 类别 | 培养・分离・分析|||分析・检查相关用品 |
| 特点 |
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| 规格 |
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| 备注 | ※关于价格、详细规格，敬请咨询。 ※目录刊载页:易购安实验用仪器・耗材目录6000号379页 |
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